F70 系列

F70系列是通用的厚度测量仪器,能够测量厚度达13毫米的薄膜。常见的应用包括玻璃,塑料板材,镜头,容器,和半导体晶圆。

普通F70用于测量透明材料,F70-NIR测量半导体材料。厚度范围由镜头和软件选择决定(详见数据表)。

厚度在一秒钟内测得。和其它Filmetrics厚度测量仪器一样,F70用USB与您的Windows™电脑连接,并在几分钟内完成设置。

包含的内容:

型号规格

*范围取决于选项和被测材料
型号 测量材料 厚度范围* 波长范围*
F70 透明 15µm-13mm 380-1050nm
F70-NIR 半导体 100µm-2mm 950-1700nm

额外的好处:

常见的选购配件: