aRTie:

使用简易.可负担的价位.

没有更多耗时的基准校正 , 不再浪费更多的时间预热光源, 您仅需将aRTie连接到计算机的USB端口,您已经准备好测量. aRTie双光束光学, 40000小时的光源,及内建光谱校准意味着几乎没有维护成本, 更意谓着量测精确.

用於测量较大的样品或需样本的视频功能,请参考F10-RT.

它很容易使用:

  • 不需要基准校正和环境燥音评估步骤
  • 电源来自USB – 无需另外连线或设置
  • 启动软件10秒钟后F2-RT即可测量
  • 40,000-小时光源
  • 内置自动波长校正
  • 测量反射, 透过率光谱, 反射+透过率光谱,吸收率(=1-反射-透过), 以及平面镜面反射样品之色坐标
  • 可选购升级薄膜厚度和折射率分析软体
  • 波长范围380-1050nm

型号规格

*取决于薄膜种类
**可选购厚度和折射率测量软件升级
型号 厚度范围* 波长范围
F2-RT 15nm - 70µm** 380-1050nm
F2-RT-UV 1nm - 40µm** 190-1100nm
型号 可以测量什么
F2-RT 反射率与透射率
F2-R 反射率
F2-T 透射率