為您介绍 aRTie-UV:

可负担价位之反射率,透射率和薄膜厚度测量. 波长范围涵盖190-1100纳米

aRTie 的發表代表著可负担及便捷使用之光谱反射率測量的一大突破 , 不再需要耗时的基准步骤. 只需将aRTie插入计算机的USB端口 , 连接UV光源,便能准备测量样品. aRTie的高功率UV光源已及内建校准功能的光谱仪意谓着高信赖度的测量和低维护成本.

用於测量较大的样品或需样本的视频功能,请参考F10-RT.

aRTie 产品特性

  • 不需要基准校正和环境燥音评估等步骤
  • 高功率光源(30 瓦氘燈, 7瓦鹵素燈泡)
  • 光谱仪内置自动波长校正功能
  • 可测量平面样品之反射及透过率光谱, 並可顯示反射+透过率光谱, 吸收率光谱 (=1-反射-透过率), 以及顏色坐标
  • 可选购升级薄膜厚度和折射率分析功能
  • 波长范围190-1100nm

型号规格

*取决于薄膜种类
**可选购厚度和折射率测量软件升级
型号 厚度范围* 波长范围
F2-RT-UV 1nm - 40µm** 190-1100nm
型号 可以测量什么
F2-RT-UV 反射率与透射率
F2-R-UV 反射率
F2-T-UV 透射率