F3

F3是我们最新、最先进的光谱反射仪,搭配厚度与折射率的软件模组可以用来测量薄膜的特性,具备了这些软件模组的F3不但包含我们最畅销的F20所有能力,而且还具备了即时波长校准与寿命高达4万小时的光源,基本上这也代表着减少了客户长期维护的成本。

不到一秒钟即可测量厚度与折射率,如同我们所有的厚度测量仪,F3能够透过USB安装到您的Windows电脑平台上并在几分钟内设定完成。事实上,F3系统仅需与USB连接而不需另外供电。

不同的F3仪器的波长范围主要区别为厚度测量范围的能力

包含的内容:

型号规格

*取决于薄膜种类
型号 厚度范围* 波长范围
F3 15nm - 70µm 380-1050nm
F3-NIR 100nm - 250µm 950-1700nm
F3-UV 1nm - 40µm 190-1100nm
F3-XT 0.2µm - 450µm 1440-1690nm
F3-sX 系列 10µm - 3mm 960-1580nm
厚度范围*

额外的好处:

  • 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种
  • 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)
  • 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)
  • 硬件升级计划