Filmetrics 提供测量非金属半导体制程薄膜的全系列产品。
F20是单点测量厚度和折射率的最经济有效的仪器。
对于小光斑厚度测量 (1 微米或更小)，可以将F40固定到您的显微镜上。
对于空白晶圆薄膜厚度测绘，可选用经济有效的F50。而F80则能测绘产品晶圆上的薄膜厚度。
我们专利的厚度成像技术使我们的仪器易于设定、较少配方，并且提供更为可靠的模式识别和比传统薄膜计量工具更低的价格。 有独立或组合到其它设备的机型可供选择。
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Filmetrics 提供 免费测试 - 一般 1-2 天得到结果。
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测量厚度， 结晶， 以及各种形式非晶硅和多晶硅的折射率和消光系数。
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我们的 F80 厚度成像产品用于测量氧化物、STI 和金属化学机械研磨加工。
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Filmetrics库存成千上万种工业用电介质薄膜测量仪器。
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Filmetrics 系统广泛用于汽车工业验证硬薄膜和底漆厚度。
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F3-sX 广泛用于芯片产业测量硅背面薄化。
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Filmetrics独有的分析算法可以一键测量透明导电氧化物 （TCO）厚度，折射率，和消光系数。
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测量血管成型球囊、支架、植入件以及其它很多涂层厚度。
APPLICATIONS_biomedical_FilterKeywords
测量达50纳米(nm)的金属膜厚度，折射率，和消光系数。
APPLICATIONS_metal_FilterKeywords
测量萘联苯胺，三喹啉铝，聚 乙烯基，聚 己基噻吩，以及可溶性特氟隆等薄膜的厚度和折射率。
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F10-AR 测量反射率和颜色，以及减反射涂层和硬涂层厚度。
APPLICATIONS_ophthalmic_FilterKeywords
只要把聚对二甲苯涂层样本放在F3-CS平台上，就可以测量厚度！
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我们已经测量了几十种光刻胶，我们能生成您需要的任何光刻胶折射率文件。
APPLICATIONS_photoresist_FilterKeywords
测量多孔硅薄膜厚度，多孔性，折射率，和消光系数。
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Filmetrics提供测量半导体制程薄膜的全系列产品。
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测量波长200纳米(nm)到1700纳米(nm)的折射率和消光系数。
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测量达2毫米厚晶圆的台式，测绘，和生产系统。
APPLICATIONS_si-wafers_FilterKeywords
测量碲化镉, 硫化镉, 铜铟硒化镓, 无定形硅,透明导电氧化膜, 减反射层, 等等。。。
APPLICATIONS_solar_FilterKeywords
已经有五十多台 Filmetrics 的 F20 用于大学半导体制造教学实验室。
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Filmetrics系统广泛用于在线测量聚合物薄膜厚度领域。
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